对纳米/亚微米晶X7R钛酸钡陶瓷微结构控制与性能进行了系统的研究.尝试通过两段法烧结技术控制陶瓷的微观结构,制备出纳米/亚微米晶的BaTiO3基符合X7R标准的陶瓷材料.利用SEM和介电频谱等试验手段,对材料组成、显微结构、介电性能等进行了分析.两段法烧结制备的BaTiO3基X7R抗还原陶瓷材料具有以下技术指标:室温介电常数在2000~2500左右,容温变化率在±15%之内,介电损耗在2%以内,晶粒尺寸在300nm左右.与普通烧结相比,所制备的陶瓷具有细晶、致密、粒度均匀和高的介电性能等特点.
参考文献
[1] | 赵建玲 等.[J].稀有金属材料与工程,2003,32(zk):370. |
[2] | Chen I Wei;Wang X H .[J].Nature,2000,404(6774):168. |
[3] | David I Spang;Ahmad Safari .[J].IEEE,2000,2:817. |
[4] | Smyth D M .[J].IEEE,2000,1:135. |
[5] | Detlev F K .[J].IEEE,2000,1:135. |
[6] | Tsur Y;Randall C A .[J].IEEE,2000,1:151. |
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