采用流延工艺制备了半晶态的PVDF薄膜,通过X射线衍射分析(XRD)对不同电场强度下电极化的薄膜进行了表征.电极化的相变过程为α相→δ相→β相.薄膜的铁电性能分析表明,薄膜的剩余极化值Pr随电场强度变化的趋势符合Boltzmann分布函数,拟合的Boltzmann方程表明:引起Pr变化最大的极化电场强度范围是105～125MV/m,最大的剩余极化值Pr达到6μC/cm2.
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