采用X射线结合全谱拟合,对共沉淀纳米YSZ制备过程中的晶体结构演变进行了分析.结果表明,四方纳米YSZ的含量与锻烧温度有关;在低锻烧温度下生成的四方纳米YSZ具有错乱的品格,其晶格参数随锻烧温度的升高而变化,经1200℃锻烧后恢复;四方纳米YSZ的晶粒尺寸随锻烧温度的升高先减小后增大.同时探讨了品格参数变化的原因并计算了四方纳米YSZ晶粒生长的激活能.
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