采用交流阻抗技术对掺纳米ZnO的纳米ZrO2(3Y)复合掺杂材料在473~973K温度范围电导率随ZnO第二相质量分数(0.0%~5.0%(质量分数))的变化关系进行了研究.研究发现掺很少量的纳米ZnO(0.5%~1.0%<质量分数)),纳米ZrO2(3Y)材料晶粒和晶界电阻显著增加,电导率降低,原因在于缺陷缔合效应和晶界偏聚效应的加剧,阻碍了氧空位的迁移.随着ZnO掺入量的增加(>1.0%(质量分数)),晶界电阻显著减小,晶粒电阻变化不大,总电导率回升,在中低温范围,总电导活化能与晶界电导活化能具有相同的变化趋势.
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