采用发射光谱分析技术,研究了钛及钛合金中Zr,Ru,Pd,Hf,Cu,Y,V,Mo,Nb,Al,Co,Ni, Ta,Bi,Sn,Cr,Mn的光谱测定方法.结果表明,选用碳粉作为缓冲剂,使用浅孔电极和大电流激发,一次摄谱可同时测定17个杂质元素.测定下限为3×10-4%～1.5×10-3%,相对偏差在15%以内.
参考文献
| [1] | Standard Sepcification for Seamless and Welded Titanium and Titanium Alloy Pipe Annual Book of ASTM Standards[S].,1991. |
| [2] | Standard Test Methods for Chemical Analysis of Titanium and Titanium Alloy Annual Book of ASTM Standards[S].,1991. |
| [3] | 冶金工业部科技情报研究所.光谱线波长表[M].北京:冶金工业出版社,1971:750-180. |
| [4] | 杨申彦.第三元素对光谱法测定钛及钛合金中杂质的影响[J].稀有金属材料与工程,1994(04):72-76. |
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