PbFCl闪烁晶体中十字状缺陷的成因分析

人工晶体学报, 2013, 42(12): 2482-2494.

PbFCl闪烁晶体中十字状缺陷的成因分析

张国庆 ^1, , 任国浩 ^2, , 商珊珊 ^3, , 孙丹丹 ^4, , 骆家亮 ^5, , 赵珊茸 ^6,

1.中国地质大学(武汉)地球科学学院,武汉430074;中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

2.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

3.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

4.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

5.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

6.中国地质大学(武汉)地球科学学院,武汉430074

基金项目: 国家自然科学基金(51102254,91022028,41372058)

关键词： PbFCl晶体 , 十字状缺陷 , 选区电子衍射 , 电子背散射衍射

Formation Factor Analysis of Criss-cross-like Defects in PbFCl Scintillation Crystal

ZHANG Guo-qing ^1, , REN Guo-hao ^2, , SHANG Shan-shan ^3, , SUN Dan-dan ^4, , LUO Jia-liang ^5, , ZHAO Shan-rong ^6,

1.中国地质大学(武汉)地球科学学院,武汉430074;中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

2.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

3.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

4.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

5.中国科学院上海硅酸盐研究所,上海201800

6.中国地质大学(武汉)地球科学学院,武汉430074

Keywords： PbFCl crystal , criss-cross-like defect , SAED , EBSD

坩埚下降法生长的PbFCl晶体中的十字状缺陷对晶体的透光性能有较大影响.用电子背散射衍射测量了十字状缺陷的结晶学方位,并用X射线粉晶衍射、热重-差热分析、扫描电镜以及选区电子衍射对含十字状缺陷和不含十字状缺陷的晶体的结构和成分进行了对比研究.结果表明,十字状缺陷两臂分别平行于[110]和[110]方向,含十字状缺陷的晶体中存在纳米Pb颗粒.据此提出一种十字状缺陷成因的假说,认为PbCl2原料受热分解产生的Pb颗粒在PbFCl晶体中产生应力点,十字状缺陷是应力作用下沿[110]方向和[110]方向形成的微小开裂.

参考文献

[1]	Chen JM.;Shen DZ.;Mao RH.;Ren GH.;Yin ZW. .Crystal-growth of PbFCl by modified Bridgman method[J].Journal of Crystal Growth,2003(3/4):393-396.
[2]	陈建明 .氟氯化铅晶体生长及闪烁性能研究[D].中国科学院上海硅酸盐研究所,2004.
[3]	邱志惠,阮青锋,赵珊茸,徐海军.硫酸钾枝状晶的生长与EBSD测定[J].人工晶体学报,2012(05):1399-1404.
[4]	徐海军,金淑燕,郑伯让.岩石组构学研究的最新技术--电子背散射衍射（EBSD）[J].现代地质,2007(02):213-225.
[5]	任国浩,沈定中,王绍华.氟化铅晶体中的散射颗粒[J].无机材料学报,1999(04):535.
[6]	Kumari PNS;Kalainathan S .Characterization of lead(II)chloride single crystals grown in silica gel[J].Crystal Research and Technology: Journal of Experimental and Industrial Crystallography,2008(4):413-416.

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