对AG-80环氧树脂浇注体进行了120 keV质子辐照试验,测试了质子辐照前后AG-80的质损率,借助AFM、XPS对环氧树脂表面的形貌、化学成分和化学结构进行了分析.试验结果表明,随质子辐照剂量增加,质损率首先增加,随后变化趋于平缓;表面粗糙度先增加后减小.在质子辐照的作用下,AG-80环氧树脂表面离子碎片逸出和表面层发生炭化是其质损和表面粗糙度发生变化的原因.
参考文献
[1] | 肖少伯 .[J].高科技纤维与应用,1999,24(02):1-7. |
[2] | Gao Y;Dong SL;Yang DZ;He SY;Li ZJ .Damage effects of 120-keV electron radiation on AG-80 resin[J].Journal of Polymer Science, Part B. Polymer Physics,2006(1):177-184. |
[3] | GAO Y;JIANG S L;SUN M R et al.[J].Radiation Physics and Chemistry,2005,73(06):348-354. |
[4] | Gao Y;Jiang SL;Yang DZ;He SY;Xiao JD;Li ZJ .A study on radiation effect of < 200 keV protons on M40J/epoxy composites[J].Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms,2005(2):261-268. |
[5] | 王德中.环氧树脂生产与应用[M].北京:化学工业出版社,2001:453-464. |
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