利用传统的固相烧结工艺制备了Sr2LaxBi 4-xTi5O18(x=0.00、0.05、0.1、0.25、0.5、0.75、1.00)陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.X射线衍射结果表明La掺杂对Sr2Bi4Ti5O18的晶体结构几乎没有影响.样品的铁电、介电结果表明,随着La掺杂量的增加,样品的剩余极化(2Pr)和矫顽场(Ec)逐渐减小,这是由于离子半径较大的La取代类钙钛矿层A位Bi离子,使得样品晶格畸变变小,从而导致2Pr降低,晶格畸变的减小也使得沿着外电场方向氧八面体中的阳离子更易运动,导致Ec减小.样品的相变温度Tc随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关.
参考文献
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