报道了sol-gel技术制备Pb1-x YxTiO3纳米陶瓷(x=0.1%,0.2%,0.4%,0.8%,1.2%,1.6%).试样采用介电分析仪测试.结果发现,当钇掺杂量高于0.4%时,可以烧结得到致密陶瓷片,不同掺杂量的PbTiO3在居里温度区域都出现电容量激增现象.在该区域介电损耗(tgδ)出现突变峰,峰高依次为0.8%,0.4%,1.2%,居里点以下,tgδ大小顺序为0.4%＞0.8%＞1.2%.陶瓷复阻抗虚部随温度升高而降低,实部几乎不随温度变化.且居里点以上,实部和虚部复阻抗趋同.
参考文献
| [1] | Megaw H D .[J].Phys Soc,1946,58(02):133-152. |
| [2] | GeShiram;SodaoHoshino .[J].Journal of The Physical Society of Japan,1951,6(04):265-270. |
| [3] | Tien T Y;Carlson W G .[J].Journal of the American Ceramic Society,1962,45(12):567-571. |
| [4] | 智宇;陈昂 .[J].浙江大学学报(人文社会科学版),1993,1(02):116-121. |
| [5] | 龚树萍;吕文中;黎步银 等.[J].无机材料学报,1995,10(01):109-112. |
| [6] | 吴淑荣 等.[J].功能材料,1995,26(05):427-430. |
| [7] | 王德君,邱军,郭淳,桂治轮,李龙土.V型特性PTC材料的复阻抗解析[J].硅酸盐学报,1998(01):53-57. |
| [8] | Maiti H S;Basu R N .[J].Materials Research Bulletin,1986,21(09):1107-1121. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%