碲化铋取向纳米柱状薄膜热导率测量

工程热物理学报 , 2015, 36(4): 816-819.

碲化铋取向纳米柱状薄膜热导率测量

邱琳 ^1, , 郑兴华 ^2, , 岳鹏 ^3, , 唐大伟 ^4, , 曹丽莉 ^5, , 邓元 ^6,

1.中国科学院工程热物理研究所,北京,100190

2.中国科学院工程热物理研究所,北京,100190

3.中国科学院工程热物理研究所,北京 100190;中国科学院大学物理学院,北京 100049

4.中国科学院工程热物理研究所,北京,100190

5.北京航空航天大学材料科学与工程学院,北京,100191

6.北京航空航天大学材料科学与工程学院,北京,100191

基金项目: 国家自然科学基金资助项目(No.51306183,No.51336009)

关键词：碲化铋 , 热电 , 纳米柱状薄膜 , 热导率

Thermal Conductivity Measurement of Oriented Thin Film With Columnar Nanostructures

Keywords： Bi2Te3 , thermoelectric , thin film with columnar nanostructures , thermal conductivity

将热电材料制作成纳米柱状薄膜结构是一种理论上能有效降低热导率、从而大幅提升热电优值的搡控手段.但是随之而来的问题是纳米柱状薄膜热导率的精确获取困难,因为常规的热物性测试手段已无法适用于该类表面多孔、厚度为微米量级结构热输运特性的表征.本文提出利用3ω方法可实现Bi2Te3取向纳米柱状薄膜热导率实验表征的测量结构,并且获得了纳米柱状薄膜的热导率和热扩散率值.该方法有望用于微米厚纳米柱状薄膜结构热输运性能的实验评价.

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