考虑不透明漫射基底的反射/发射和半透明介质层的吸收/发射,建立半透明介质层表面红外测温过程的辐射传输模型,采用反向蒙特卡罗法进行模拟,获得探测表面在热像仪的指示辐射温度.与不透明表面红外测温进行比较,分析表面形状、基底发射率εs及介质层光学厚度τ的影响.结果表明,半透明介质层表面的指示辐射温度在εs＜1.0时,随τ的增大而增大,τ≥2时数值趋于εs=1.0时的结果,与不透明表面存在较大差异;针对复杂形状或内凹曲面红外测温,不透明表面和半透明介质层表面均受到反射其他部位辐射现象的影响.
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