根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法, 探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用. CR电路拟合稳定性较高, 对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律, 导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响. 对于阻挡性不完整的薄涂层, 在一定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f* 变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关, 但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化, 并解释了其原因.
参考文献
[1] | |
[2] | |
[3] | |
[4] | |
[5] | |
[6] | |
[7] | |
[8] | |
[9] | |
[10] | |
[11] | |
[12] | |
[13] |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%