用JEM2000EⅫ高分辨电子显微镜(HREM)研究了TiB晶须增强的Ti合金基复合材料的精细结构分析了TiB晶须的生长形貌和堆垛层错、β—Ti的超结构及TiB和Ti合金基体界面.测定了α─Ti或β—Ti与TiB的取向关系
参考文献
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| [8] | AlexanderKB,AngeliniP,BecherPF．MatResSocSympProc,1990 |
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