在没有保护气氛情况下,对铁硅酸盐分别在不同熔制温度下进行熔制,并对玻璃进行电阻率测试,从而确定不同熔制温度对铁硅酸盐玻璃的体积电阻率的影响,进而分析不同熔制温度对电阻率影响的规律.为在无保护气氛下生产出电阻率达到1010数量级电阻玻璃提供熔制工艺技术依据.
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