采用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)技术,对p型GaN:Mg的均匀掺杂,delta掺杂和生长停顿掺杂3种不同掺杂方法的外延片研究,通过对电学的、光学的、表面形貌分析表明,生长停顿方法的外延片有较好的晶体质量,但因生长停顿过程中引入额外杂质增加自补偿效应;delta掺杂方法明显提高了空穴浓度,降低了电阻率,提高空穴迁移率,取得较好的表面形貌.
参考文献
[1] | Hiramatsu K;Detchprohm T;Akasaki I .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1993,32:1528. |
[2] | Wood C E C;Metze G;Berry J et al.[J].Journal of Applied Physics,1980,51:383. |
[3] | Schubert E F;Cunningham J E;Tsang W T et al.[J].Applied Physics Letters,1986,49:292. |
[4] | Schubert E F;Ploog K .[J].Japanese Journal of Applied Physics,1983,24:L608. |
[5] | Heying B;Wu X H;Keller S et al.[J].Applied Physics Letters,1996,68:643. |
[6] | Fan Z Y;Li J;Lin J Y et al.[J].Applied Physics Letters,2002,81:464. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分:
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%