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测定了碳素复合材料的法向光谱发射率和法向总发射率,利用扫描电子显微镜(SEM)进行表面形貌分析,研究了浸渍致密化工艺以及表面形貌与碳素复合材料法向光谱发射率和法向总发射率的变化.结果表明,炭布和短纤维增强碳素复合材料的法向光谱发射率和总发射率均在最终浸渍致密化之后有所增加,在多次致密化后两组样品总发射率间的差距减小,增加树脂碳含量有利于碳素复合材料发射率的提高.表面抛光引起了样品粗糙度的显著降低,碳素复合材料的法向光谱发射率和总发射率均明显下降.

参考文献

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