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在Na5P3O10+NaOH+Na2EDTA体系下,采用恒压模式对氢化锆进行微弧氧化处理获得连续、致密且裂纹、孔洞等缺陷较少的ZrO2陶瓷层.通过扫描电镜(SEM)、X射线衍射(XRD)及能谱(EDS)仪,分析了陶瓷层的表面形貌、截面形貌、相结构及元素分布.通过真空脱氢实验及XRD分析对陶瓷层的阻氢性能进行评价.结果表明:氢化锆表面ZrO2陶瓷膜厚度约为78 μ.m,陶瓷层由过渡层、致密层和疏松层构成;ZrH1.8表面微弧氧化陶瓷层主要由M-ZrO2、T-ZrO2及C-ZrO2构成,主要为M-ZrO2,约90%;微弧氧化陶瓷层氢渗透降低因子(PRF)高达11.7,具有优越的阻氢效果.

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