高Q腔法与准光腔法用于毫米波段室温介电性能测试比对研究

宇航材料工艺 , 2013, 43(2): 99-101.

1.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

2.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

3.电子科技大学,成都610054

4.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

Comparison of High Q Cavity Method and Quasi-Optical Resonator Method Used in Dielectric Properties Testing at Millimeter Wave Band

1.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

2.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

3.电子科技大学,成都610054

4.航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076

介绍了用于毫米波段的介电性能测试的高Q腔法和准光腔法的原理及物理模型,并分别对其进行了仿真分析,建立了相应的测试装置,进行了空腔和石英玻璃的测试.结果表明,准光腔法要比高Q腔法在品质因数、可分辨的频点、样品尺寸、测试精度等方面更有优势.

[1]	李瑱.战术导弹导引头技术及毫米波制导的发展趋势[J].科技信息,2010(09):460-461.
[2]	刘荣丰,李博.毫米波雷达的应用及发展趋势[J].科协论坛(下半月),2009(01):87-88.
[3]	吴超,李恩,郭高凤,何凤梅.高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数[J].宇航材料工艺,2009(01):82-84.
[4]	雷丹,张其劭,李恩.用3mm准光腔测试介质片复介电常数[J].宇航材料工艺,2006(02):71-74.

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