周凯
,
吴广宁
,
雷克刚
,
何景彦
,
佟来生
材料科学与工程学报
本文研究了方波脉冲电压下不同频率、电压和温度下的局部放电行为及对聚酰亚胺薄膜寿命的影响.通过连续高压脉冲下的绝缘老化试验和测试系统,以聚酰亚胺薄膜为试验对象,研究不同脉冲幅值、频率及温度下的局部放电特征和影响因素,并得到其寿命曲线,分析了局部放电参量和寿命间的联系,得到了基于连续高压脉冲下的绝缘老化寿命模型的相关参数.
关键词:
变频电机
,
聚酰亚胺膜
,
局部放电
,
老化
,
寿命模型
何景彦
,
吴广宁
,
高波
,
雷克刚
,
吴建东
绝缘材料
doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2007.01.021
对聚酰亚胺薄膜进行电、热及电-热联合老化,测试了老化前后试样的tanδ和试样电容随试验电压的变化趋势,分析了不同老化条件对tanδ和电容的影响.实验结果表明,试样电容随不同老化条件变化的物理过程与介质损耗实验结果的分析是一致的:电老化对tanδ的影响最大,热老化在一定程度上起了热清洗的作用,导致老化后介损反而降低.通过介电频谱分析,tanδ随频率变化曲线上的峰值点可以确定绝缘的老化状况.
关键词:
聚酰亚胺
,
绝缘
,
老化
,
介质损耗
中国材料进展
2011年8日下午，何梁何利基金2011年度颁奖大会在京举行。我国高性能计算机领域杰出科学家、国防科技大学杨学军教授荣获“科学与技术成就奖”，丁伟岳等35人获“科学与技术进步奖”，吴朝晖等15人获“科学与技术创新奖”。中共中央政治局委员、国务委员刘延东向大会发来贺信，全国人大常委会副委员长桑国卫、全国政协副主席万钢出席会议并为获奖代表颁奖。何梁何利基金评选委员会主任朱丽兰向大会作工作报告。
关键词:
科学家
,
基金
,
中共中央政治局
,
全国人大常委会
,
突出
,
国防科技大学
,
计算机领域
,
科学与技术
