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  • 论文(347)

不同结构Sm-Co/α-Fe多层膜体系磁性能的研究

正方 , 伍清萍

金属功能材料 doi:10.3969/j.issn.1005-8192.2007.04.002

利用微磁学理论,研究了周期及准周期结构Sm-Co/α-Fe交换耦合多层膜体系的剩磁、内禀矫顽力与体系厚度及层数的关系.研究结果表明:当体系厚度较大且层数较少时,周期结构的磁性能优于准周期结构的磁性能;但当体系厚度较小层数较多时,则是准周期结构的磁性能优于周期结构的磁性能.这对交换耦合多层膜磁体的制备...

关键词: 微磁学 , 剩磁 , 内禀矫顽力 , 交换耦合

碳原子环对水分子吸附的第一性原理研究

正方 , 念华 , 安丽萍 , 春梅

材料导报

采用基于密度泛函理论的第一性原理,研究了碳原子环对水分子的吸附行为,比较了不同吸附位置下体系能隙、费米能以及吸收光谱的区别.研究结果表明,碳原子环上的水分子吸附只是物理吸附,且水分子吸附位置不同对体系的电学与光学性能产生显著影响.特别是水分子的吸附为放热过程,由于水分子吸附,使体系的能隙以及费米能级...

关键词: 碳原子环 , 水分子吸附 , 第一性原理

掺杂对锯齿形(Zigzag)石墨烯纳米带输运性质的影响

安丽萍 , 春梅 , 正方 , 念华

材料导报

基于第一性原理计算,研究了掺杂对锯齿形石墨烯纳米带电子输运性质的影响.研究发现,掺杂原子种类、掺杂位置的不同将对电子输运产生极大的影响.当中间散射区域的中心C原子被B杂质原子代替时,在电子输运谱的费米能级以下会出现一个零透射的波谷,而另一侧则不变;当带中心杂质为N原子时情况正好相反.零透射波谷的出现...

关键词: 第一性原理 , 锯齿形石墨烯纳米带 , 掺杂 , 输运性质

不同偏振下Fibonacci准周期超晶格的传输特性

伍清萍 , 正方 , 陈爱喜

量子电子学报 doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2008.01.020

利用传输矩阵方法,研究了不同偏振情形下,电磁波在正负折射率媒质构成的Fibonacci准周期超晶格中的传播规律.结果表明:随着入射角的增加,S偏振时的禁带有加宽趋势,但在一定角度时消失;P偏振时的禁带则始终加宽,且出现了全向带隙.还进一步研究了引入缺陷后的偏振特性,并通过将有缺陷的Fibonacci...

关键词: 纤维与波导光学 , 负折射率介质 , Fibonacci准周期超晶格 , 偏振 , 透射系数

宗昌等《贝氏体铁素体的形核》一文

徐祖耀

材料热处理学报

文中,关于贝氏体形成机制,包括形核过程的文献很少被引述。作者(等)的主要论点为贝氏体铁素体以无扩散、非切变机制在奥氏体内贫碳区形核,并未引述形成贫碳区的必要条件。本文作者强...

关键词: 贝氏体形核 , 扩散机制 , 切变机制 , 贫碳区

汝官瓷、张公巷窑青瓷和家门窑青瓷的判别分析研究

蔡敏敏 , 李国霞 , 赵维娟 , 李融武 , 赵文军 , 承焕生 , 郭敏

硅酸盐通报

利用质子激发X射线荧光分析(PIXE)测试分析汝官瓷、张公巷窑青瓷和家门窑青瓷样品的主要化学组成,用多元统计判别分析方法对数据进行分析,以确定它们的分类和起源关系.结果表明:汝官瓷、张公巷窑青瓷和

关键词: 汝官瓷 , 张公巷窑青瓷 , 家门窑青瓷 , 判别分析

求解对流扩散方程的紧致修正方

张昆 , 杨茉

工程热物理学报

提出了求解对流扩散方程的紧致修正方法,该方法是在低阶离散格式的源项中,引入紧致修正项,从而构造高阶紧致修正格式,并进行求解.采用紧致修正方法对典型的对流扩散方程进行计算.结果表...

关键词: 紧致有限差分格式 , 紧致修正方 , 对流扩散方程

镶嵌正方晶格上Ising模型的近似解

孙春峰 , 孔祥木

低温物理学报

采用格点自旋消约方法,将具有最近邻和次近邻耦合作用的镶嵌正方Ising晶格变换成等效的具有最近邻、次近邻和四体耦合作用的正方Ising晶格,得到系统近似解的临界点在K'c=0....

关键词: 镶嵌正方晶格 , Ising模型 , 临界点 , 相图

汝官瓷、钧官瓷和家门窑青瓷的多元统计分析

肖朋飞 , 赵红梅 , 李融武 , 赵文军 , 李国霞 , 赵维娟 , 承焕生

硅酸盐通报

本文采用质子激发X射线荧光分析(PIXE)技术测试了34个汝官瓷样品、30个蓝色系列钧官瓷样品(不含红釉系列)和17个家门窑青瓷样品的主量化学组成含量,根据这些样品的主量化学组成含量数据,应用多元统计分析方法进行分析.结果表明:汝官瓷、...

关键词: 汝官瓷 , 钧官瓷 , 家门窑青瓷 , PIXE , 因子分析

靶场光学镜头畸变校正方法研究

于国栋

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20173203.0227

光学镜头畸变是影响靶场光学设备测试精度的一个重要因素,特别是短焦大视场情况下尤为显著.目前采用的修正方法虽然能起到一定的效果,但是其修正后的残留误差依然较大,不容忽视,为了消除其影响,提高设备测角精度,提出了局部区域最小二乘法和分形插值曲...

关键词: 畸变 , 短焦大视场 , 测角精度 , 局部区域最小二乘 , 分形插值

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