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α-C:F薄膜的键合结构与电子极化研究

叶超 , 康健 , 宁兆元 , , 辛煜 , 方亮 , 陆新华 , 项苏留

功能材料

利用微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积技术,通过改变微波输入功率的方法,沉积了具有不同结构特征的氟化非晶碳(α-C:F)薄膜.随着微波功率从M0w升高到560w,薄膜的光频介电常数从2.26降至1.68,红外光谱(FTIR)分析表明薄膜的键结构由以CF基团为主变化到CF与cF2基团共存.由于CF2基团的极化比CF基团弱,薄膜中CF2基团的增加可能是导致光频介电常数减小的因素.

关键词: α-c:F薄膜 , 键结构 , 电子极化

掺杂比对脉冲激光沉积的ZnO:Al膜性能的影响

葛水兵 , , 宁兆元 , 沈明荣 , 甘肇强 , 周咏东 , 褚君浩

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2000.01.010

用脉冲激光法制备了ZnO:Al透明导电膜.通过对膜的霍尔系数测量及SEM、XRD分析,详细研究了靶材中的化学配比(掺杂比)对膜的透光率和电阻率的影响.结果表明:掺杂比影响着膜的电学、光学性能和膜的结晶状况.掺杂比从0.75%增至1.5%,膜的载流子浓度、透光率( 波长大于500nm)和光隙能相应增大.在掺杂比为1.5%左右时沉积的膜的电阻率达到最小,其值为7.1×10-4Ωcm,且在可见光区其透光率超过了90%.

关键词: 脉冲激光沉积 , ZnO膜 , 掺杂比

氟化非晶碳膜的光学带隙和伏安特性

黄峰 , 康健 , 杨慎东 , 叶超 , , 宁兆元 , 甘肇强

功能材料

用苯(C6H6)和三氟甲烷(CHF3)混合气体作源气体,采用永磁微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积(MWECRCVD)技术,制备了氟化非晶碳膜(a-C:F).光学带隙的结果表明它与膜中的C、F元素含量和键结构都有关系;伏安特性的测量表明a-C:F薄膜的电导在低电场下呈欧姆特性,高电场下则是肖特基发射机制.

关键词: a-C:F薄膜 , MWECR-CVD , 光学带隙 , J-V特性

CHF3/C6H6等离子体中的基团分析

, 宁兆元 , 李戈扬 , 叶超 , 杜伟 , 辛煜

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2003.03.002

在一个微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积系统中,测量了 CHF3、 C6H6及其混合气体放电的质谱和发射光谱图,分析了等离子体中主要基团的分布及其产生的途径,研究了放电功率和流量对主要基团密度的影响,以及它们与氟化非晶碳薄膜沉积速率和键结构之间的关联.结果表明,提高微波功率会增加 CHx、 CFx等成膜基团的密度,有利于加大沉积速率;而增加 CHF3的进气量则会加大 F原子基团的密度,这是由于它控制了薄膜的氟化程度.

关键词: 电子回旋共振等离子体 , 氟化非晶碳薄膜 , 四极质谱 , 发射光谱

沉积温度对a-C:F薄膜结构与热稳定性的影响

陈玲玲 , , 宁兆元 , 辛煜

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2004.02.007

在不同的沉积温度下,利用CHF3和C2H2为气体源,在微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积(ECR-CVD)系统中制备了氟化非晶碳(a-C:F)薄膜,为了研究其热稳定性,薄膜在500℃的真空中作了退火处理.测量了退火前后其电学、光学性质的变化,使用FTIR、Raman、XPS方法考察了其结构随沉积温度的变化,分析了性质同结构之间的关联.结果表明,在高的沉积温度下制备的薄膜中的F/C比较低,CF2和CF3键成分较少而以CF键成分为主,其交联程度高,因而具有较好的热稳定性.

关键词: a-C:F , 沉积温度 , 红外吸收谱 , 热稳定性

掺杂比和氧分压对脉冲激光沉积ZnO:Al膜性能影响的研究

葛水兵 , , 宁兆元 , 沈明荣

材料科学与工艺 doi:10.3969/j.issn.1005-0299.2000.02.022

利用脉冲激光法制备了ZnO:Al 透明导电膜.通过对膜进行霍尔系数测量及SEM、XRD测试分析,详细研究了靶材中的化学配比(掺杂比)对膜的透射比和电阻率的影响.结果表明:掺杂比、氧分压强影响着膜的电学、光学性能和膜的结晶状况.从电学分析看出:掺杂比从0. 75%增至1.5%过程中,膜的载流子浓度、透射比(在波长大于500 nm的范围)和光隙能相应增大.在氧分压强为0 Pa、掺杂比为1.5%左右时沉积的膜,其电阻率达到最小,其值为7.1 ×10-4Ω·cm,且在可见光区其透射比超过了90%.

关键词: 脉冲激光沉积 , ZnO膜 , 掺杂比 , 氧分压

微波功率对a-C:F薄膜结构和光学性质的影响

黄峰 , , 宁兆元 , 杨慎东 , 叶超 , 甘肇强

材料科学与工程学报 doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2001.04.008

用苯(C6H6)和四氟甲烷(CF4)混合气体作源气体,用微波电子回旋共振等离子体化学气相沉积技术制备了含氟非晶碳膜(a-C:F).着重讨论了输入的微波功率对成膜结构和性质的影响.我们对沉积的膜作了膜厚、扫描电子显微表面形貌(SEM)、紫外-可见光透射谱(UV-VIS)、傅立叶红外变换(FTIR)等的测量.结果表明随着微波功率的增加沉积速率一直在上升;同时膜中缺陷增多;从FIIR的结果我们发现膜中主要以C-F、CF2和F-芳基成键;通过UV-VIS吸收谱的测量的结果我们求出了折射率和光学带隙;并且将光学带隙和膜中的sp2碳浓度建立关系.

关键词: 微波ECR-CVD , a-C:F膜 , 微波功率

ECR-CVD沉积a-C:F薄膜

康健 , 叶超 , 辛煜 , , 宁兆元

功能材料

采用电子回旋共振等离子体化学气相沉积(ECR-CVD)技术,用苯和三氟甲烷混合气体,制备了氟化非晶碳膜(a-C:F).用红外吸收光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)分析了a-C:F薄膜的结构.FTIR结果表明,氟主要以C-F、CF2的形式成键形成a-C:F薄膜;XPS结果进一步证明a-C:F膜中存在C-F、CF2键,获得了与FTIR相一致的结果.

关键词: a-C:F薄膜 , ECR-CVD , 键结构

氟化非晶碳薄膜的低频介电性质分析

叶超 , 宁兆元 , , 辛煜 , 许圣

功能材料

研究了电子回旋共振等离子体技术沉积的氟化非晶碳(a-C:F)薄膜的低频(102~106Hz)介电性质.发现a-C:F薄膜的低频介电色散随源气体CHF3/C6H6的比例、微波入射功率而改变.结合薄膜键结构的红外分析,发现薄膜中C=C相对含量的增大是导致低频介电色散增强的原因,而C-F相对含量的增大则使低频介电色散减弱.

关键词: 氟化非晶碳(a-C:F)薄膜 , 介电色散 , 键结构

流量比对等离子体基团分布和薄膜结构的影响

杜伟 , , 宁兆元 , 叶超 , 辛煜 , 黄松

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2003.02.003

使用光强标定的发射光谱( AOES)测量了 CHF3/C6H6混合气体的微波电子回旋共振( ECR) 放电等离子体中基团的分布状态.实验发现随着 CHF3流量的增加 ,成膜基团 CF、 CF2、 CH等的相 对密度增大 ,而刻蚀基团 F的密度也会增加 ,从而使得 a-C:F薄膜的沉积速率降低.同时红外 吸收谱 (IR)分析表明 ,在高 CHF3流量下沉积的 a-C:F薄膜中含有更高的 C-F键成分.可见 在 a-C:F薄膜的制备中 CHF3/(CHF3+ C6H6)流量比是重要的控制参量.

关键词: 电子回旋共振放电等离子体 , 化学气相沉积 , 氟化非晶碳薄膜 , 发射光谱

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