史秋飞
,
郑英花
,
朱載榮
,
董天松
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20122706.0770
研究了大尺寸TFT-LCD显示器制造工艺中LC Pattern对边角Zara domain的影响.实验表明,当大尺寸TFT-LCD显示器制作工艺中LC Pattern中边角处无液晶滴时,边角Zara domain发生率高,当LC Pattern在边角处添加液晶滴时,边角Zara domain发生率降低,通过调整边角处液晶滴到玻璃基板有效面积的距离,到一定范围时边角Zara domain明显降低,通过优化,确定当使用LC Pattern 5时,边角Zara domain 发生率最低,为2.5％,经过高温炉处理后,边角Zara domain完全消失.
关键词:
LCD
,
Zara domain
,
liquid crystal pattern
王海成
,
董天松
,
郑英花
,
刘华
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20132805.0707
研究了TFT-LCD制造工艺中产生Zara Particle的影响因素.采用Mac/Mic,SEM,EDX等检测设备,对Zara点状不良进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,对其产生的原因提出了两种不同的理论观点.通过调整聚酰亚胺薄膜厚度和摩擦工艺参数等一系列措施,产品质量得到了很大的提高,Zara点状不良从改善前的21.2％降低到1.69％,大大提高了产品良率,为以后相关问题的研究奠定了一些理论基础.
关键词:
TFT-LCD
,
Zara点状不良
,
聚酰亚胺
,
摩擦
王志龙
,
郑英花
,
马亮
,
朱载荣
,
孙鹏
,
廖燕平
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20142905.0668
L0周边Mura是TFT-LCD的一种常见缺陷.本文对L0周边Mura发生原因进行分析,发现真空对盒工艺进行过程中玻璃基板表面受力不均使力学合成力较少的局部位置发生形变并引起液晶屏周边区域盒厚波动,产生不良.采用辅助封框胶开环方式,主封框胶内外两侧压差趋于平衡,L0周边Mura发生率大幅降低;而通过优化辅助封框胶工艺有效地解决了周边区域力学失衡难题,不良发生率降至0.3％,改善效果明显.此外,周边优化设计方案有助于新产品开发阶段避免该不良发生.
关键词:
L0周边Mura
,
液晶屏
,
盒厚
,
辅助封框胶
韩霞
腐蚀学报（英文）
针对郑408块注气井(郑408-试1)油、套管的腐蚀特点,通过对火烧驱油注气井油、套管腐蚀产物、腐蚀介质、凝析水量的分析研究,确定火烧驱油注气井油、套管的腐蚀原因一方面是由于高压氧气以及空气中的凝析水造成的,另一方面与油、套管材质的耐蚀性不够有关.通过材质以及防腐涂层的筛选等手段,在目前油管和套管内外防腐涂层、不锈钢油管和套管在国内尚无工程实例的情况下,总结出郑408块注气井防腐措施,包括:油、套管材质采用相对耐蚀的P110;注气采用干燥洁净的空气.
关键词:
火烧驱油
,
注气井
,
腐蚀原因
,
防腐对策
董彩常
,
孙金香
,
张波
,
黄桂桥
腐蚀与防护
对郑家坡铁矿设施和设备的腐蚀情况以及影响腐蚀的大气、水和土壤等环境因素进行了分析，得出井下设施和设备腐蚀严重的主要原因为：使用材料耐蚀性低、环境／介质腐蚀性强和防腐蚀措施不力等。
关键词:
铁矿
,
井下设备
,
腐蚀
,
分析
钢铁
进行相关热力学计算以研究高温燃烧过程二垩英生成的条件.计算得到:①在体系存在过剩氧即完全燃烧时不会产生二垩英;②当有固体碳沉积时也不会生成二垩英,因固体碳在热力学上比含二垩英的含碳物更稳定.另一方面,实际上即使在1 073 K完全燃烧条件下(即体系显著过剩氧)也有二垩英生成,原因是在实际燃烧炉中含碳微粒不可能完全烧尽.从热力学角度假设不发生碳沉积,计算得出二垩英在1 073 K高温和高CO/CO2比范围内会生成.实际考虑的条件放在燃烧炉内含碳微粒的周围.在有含碳微粒存在条件下,即使反应2CO→C+CO2(碳沉积)发生,C+CO2→2CO反应(CO生成;含碳微粒被CO2氧化)也会同时发生,导致在含碳微粒周围保持一个高的CO/CO2比,由此产生二垩英.假设在含碳微粒周围存在高CO/CO2比的异质位置,则认为二垩英会形成.
关键词:
燃烧过程
,
二垩英生成
,
含碳微粒
,
热力学
