张铁轶
,
余道平
,
王野
,
刘超强
,
张祥
液晶与显示
doi:10.3788/YJYXS20142901.0034
为了提高自动光学检测系统检测彩膜质量的准确率,降低误判,通过分析由红绿蓝三色组成矩阵结构和Line CCD获取的彩膜图像特征,在五点周期比较检测的基础上设计一种彩膜缺陷的检测方法.该方法通过对彩膜的机械与光学对位后,通过五点比对进行缺陷的检测.Line CCD从红绿蓝3个不同的区域获取不同的灰阶值,分别设置3个区域的灰阶值范围和该区域的判定阈值;最后根据缺陷与正常点灰阶差值的不同对缺陷进行分类,赋予相应的缺陷代码.基于以上3个步骤,实现对整张彩膜的缺陷检测.实验结果表明,采用五点比较、分区检测和缺陷分类相结合的方法,缺陷检出的准确率可以提高至99.6％以上.
关键词:
自动光学检查
,
彩膜
,
灰阶
,
缺陷
