李拥军
,
于涛
,
侯文卓
,
孙铁铮
液晶与显示
doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2006.01.016
根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供Gate Odd,Gate Even,Data,Vgg和Vcom 5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4.6 cm(1.8 in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好.
关键词:
TFT模块
,
驱动信号
,
点缺陷
,
线缺陷
,
CPLD
,
模拟开关
