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检索条件:作者=倪尔瑚  

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退火温度对Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜微观结构影响研究

王华 , 于军 , 王耘波 , 倪尔瑚

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2002.11.008

采用Sol-Gel工艺制备了Si基Bi4Ti3O12铁电薄膜.研究了退火温度对Si基Bi4Ti3O12薄膜晶相结构、晶粒尺寸及薄膜表面形貌的影响.研究表明,退火温度低于450℃时Bi4Ti3O12薄膜为非晶状态,退火温度在550~850℃范围时均为多晶薄膜,而且随退火温度升高,Bi4Ti3O12薄膜...

关键词: 铁电薄膜 , Bi4Ti3O12 , 微观结构 , 退火温度