李松
,
张同俊
,
安兵
,
刘一波
材料工程
doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2006.z1.048
对电子封装工业生产中无铅焊料的回流曲线工艺进行了研究,焊料的回流曲线影响界面处的金属间化合物的生成,通过引入加热因子开展研究,同时也进行了焊料的剪切强度实验用于评价封装的可靠性,研究结果表明:较厚的金属间化合物会降低焊球的剪切强度,而回流曲线的优化对焊料焊接的质量,可靠性有很强的实践意义.
关键词:
热曲线
,
金属间化合物
,
剪切强度
吴懿平
,
刘一波
,
吴丰顺
,
安兵
,
张金松
,
陈明辉
功能材料
Sn镀层表面在某些情况下会长出长达数百微米的晶须,在电子器件服役过程中会导致电路短路等严重的可靠性问题.目前普遍认为内部压应力是导致Sn晶须生长的主要动力之一;晶须生长所需的Sn原子主要以扩散方式或位错运动方式提供,而温度因素既影响原子扩散速度,又影响镀层的应力松弛.预镀Ni或者预先热处理以形成扩散阻挡层来抑制晶须生长的方法较为常用.温度循环是加速晶须生长的一种有效手段.
关键词:
晶须
,
无铅
,
可靠性
,
电迁移
,
封装
