刘劼
,
李志锋
,
沈杰
,
林杏朝
,
刘诗嘉
,
龚海梅
量子电子学报
doi:10.3969/j.issn.1007-5461.2005.02.022
用显微荧光(μ-PL)方法对在我国"神舟3号"上空间生长的CdznTe晶片中zn组分分布的研究.对晶片的单晶"壳"区及未完全熔化的"芯"区中的小结晶区域进行了逐点PL测量.对测得每一点的PL谱进行了拟合,得到测量点的禁带宽度参数Eg,其分布对应于CdznTe中zn的组分分布.测量结果给出了空间生长晶片zn组分布的变化趋势和统计规律.作为比较,测量并分析了一块采用相同方法在地面生长的CdznTe晶片.
关键词:
显微荧光
,
CdZnTe
,
Zn组分
,
平面分布
,
扫描
