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检索条件:作者=刘瑞华  

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Cu-Al合金平板试样内氧化层的测定

国秀花 , 宋克兴 , 郜建新 , 刘瑞华

兵器材料科学与工程 doi:10.3969/j.issn.1004-244X.2007.01.007

以Cu2O为氧源,采用包埋法在自制真空炉胆内进行了Cu-Al合金平板试样的内氧化试验,测定了内氧化层深度和试样的电导率,建立了平板试样内氧化后Cu-Al合金层和弥散强化层共存下的电导率模型,推导出Cu-Al合金平板试样的内氧化深度X和电导率κ的关系:κ=41.18+0.541 333(23X-4X2...

关键词: Cu-Al合金 , 内氧化深度 , 电导率 , 内氧化前沿界面