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LiBiO2掺杂的低温烧结PSZT压电陶瓷

刘越彦 , 尚勋忠 , 孙锐 , 郭金明 , 周桃生 , 常钢 , 何云斌

人工晶体学报

采用固相二步合成法,通过在预烧粉料中添加LiBiO2,制备出一种低温烧结的Pb0.95Sr0.05(Zr0.54Ti0.46)O3压电陶瓷材料.LiBiO2的添加具有降低烧结温度同时提高陶瓷性能的优点.实验结果表明:适量的LiBiO2掺杂,可形成过渡液相烧结,使烧结温度降低到950~1050℃,比未添加时的烧结温度低240~340℃.当w(LiBiO2) =1.0%,陶瓷达到最佳压电性能:压电应变常数d33=425 pC/N,平面机电耦合系数kp=57.62%,退极化温度Td=350℃,相对介电常数ε33T/ε0=1543,介电损耗tanδ=0.0216,剩余极化强度Pr=35.51 μC/cm2,体积密度p =7.45g/cm3.该材料可应用于低温共烧的叠层压电器件中.

关键词: PSZT压电陶瓷 , LiBiO2掺杂 , 低温烧结

PLD法在c面蓝宝石衬底上制备纤锌矿ZnS外延薄膜?

张蕾 , 方龙 , 刘攀克 , 刘越彦 , 黎明锴 , 何云斌

功能材料 doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.05.042

采用脉冲激光沉积方法以ZnS为靶材c面蓝宝石为衬底制备了一系列的ZnS薄膜,并采用四圆单晶衍射仪研究了薄膜的晶体结构及其与衬底的取向关系.首先研究了沉积温度对ZnS薄膜质量的影响,结果表明,所有制备的ZnS薄膜均为六方纤锌矿结构;在衬底温度为750℃时所制备的薄膜具有较好的晶体质量,并表现出与蓝宝石衬底明确的外延关系[ZnS(001)∥Al2O3(001)且ZnS(110)∥Al2O3(110)].进一步研究了在750℃下加入不同厚度的ZnO 缓冲层对于ZnS薄膜晶体质量的影响,结果表明在沉积 ZnS 薄膜前先沉积一层 ZnO 薄膜缓冲层可以进一步有效提高ZnS薄膜的晶体质量和面外取向性,其中在沉积时间为2 min的 ZnO 缓冲层上制备的ZnS外延薄膜晶体质量最好,其(002)面摇摆曲线半高宽为1.35°.本文结论对于研究 ZnS 薄膜制备光电器件具有重要的意义.

关键词: 脉冲激光沉积 , ZnS薄膜 , 缓冲层 , 外延生长 , 晶体结构

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