闫勇
,
张艳霞
,
李莎莎
,
晏传鹏
,
刘连
,
张勇
,
赵勇
,
余洲
功能材料
采用一步射频磁控溅射法在室温获得了CIGS薄膜,研究了不同的真空无硒退火温度(150~350。C)对CIGs薄膜相变历程的影响。薄膜相变历程中的结构和性能采用XRD、SEM、EDS、紫外一可见光吸收和四探针等测试手段进行测试表征。结果表明,室温下制备的CIGS薄膜为非晶态,随退火温度升高发生非晶CI...
关键词:
退火温度
,
射频磁控溅射
,
CIGS薄膜
,
相变历程
张艳霞
,
冀亚欣
,
欧玉峰
,
闫勇
,
李莎莎
,
刘连
,
张勇
,
赵勇
,
余洲
功能材料
采用直流磁控溅射法在SLG衬底上沉积Mo薄膜,并用XRD、SEM、四探针等对薄膜进行表征,研究了沉积时间对薄膜晶体结构、表面形貌以及电学性能的影响.研究发现,沉积时间能够调节Mo薄膜的择优取向.溅射时间较短(5~10min)时,沉积的Mo薄膜呈(110)择优取向.溅射时间超过15min后,薄膜呈现(...
关键词:
直流磁控溅射
,
择优取向
,
晶带模型
,
电性能
张艳霞
,
闫勇
,
李莎莎
,
黄涛
,
刘连
,
张勇
,
赵勇
,
余洲
稀有金属材料与工程
利用直流磁控溅射法在普通钠钙玻璃(SLG)衬底上沉积双层Mo薄膜,对不同条件下沉积的薄膜通过X射线衍射(XRD)仪、扫描电子显微镜(SEM)、四探针电阻仪等对其相结构、表面形貌以及电性能进行测试.结果表明:双层Mo薄膜呈体心立方结构;由于非晶玻璃基底的影响以及沉积时间较短,缓冲层结晶质量差,薄膜表面...
关键词:
Mo薄膜
,
磁控溅射
,
双层膜
,
导电机制
,
电阻率-温度曲线
黄涛
,
闫勇
,
黄稳
,
张艳霞
,
晏传鹏
,
刘连
,
张勇
,
赵勇
,
余洲
功能材料
采用直流磁控溅射法在SLG衬底上沉积Mo薄膜,对不同溅射功率和溅射工作气压下沉积的薄膜进行X射线衍射、SEM(扫描电子显微镜)、电阻率测试,讨论了工艺参数对沉积Mo薄膜相结构、表面微观形貌、薄膜沉积速率和电学性能的影响。结果表明,随着溅射功率的增加,薄膜的结晶性能变好,沉积速率提高,在沉积功率范围内...
关键词:
Mo薄膜
,
直流磁控溅射
,
电阻率
王丹
,
余洲
,
冀亚欣
,
闫勇
,
欧玉峰
,
晏传鹏
,
刘连
,
张勇
,
赵勇
材料导报
doi:10.11896/j.issn.1005-023X.2016.03.025
综述了蒸发法、溅射后硒化法、单靶直接溅射法制备CIGS光吸收层的工艺和电池性能,比较了它们的优缺点;详细介绍了粉末冶金参数(如烧结温度、压力、时间)对制备CIGS靶材致密度、成分均匀性的影响;着重阐述了单靶溅射工艺参数(如衬底温度、溅射功率、工作气压)对沉积的CIGS薄膜的相结构、形貌、光学及电学性...
关键词:
CIGS电池
,
粉末冶金
,
单靶溅射
,
光电性能
黄稳
,
余洲
,
刘连
,
张勇
,
黄涛
,
闫勇
,
赵勇
功能材料
采用射频磁控溅射法制备了掺铝氧化锌(AZO)薄膜,研究了衬底温度及溅射工作压强对沉积薄膜的晶体结构、表面形貌及电学性能的影响.结果显示,随衬底温度增加,薄膜的结晶结构发生显著变化,而溅射工作气压增加主要影响沉积薄膜(103)面与(002)面的相对强度.薄膜的表面形貌受温度影响严重,而气压对形貌的影响...
关键词:
AZO薄膜
,
晶体结构
,
电学性能
黄稳
,
余洲
,
张勇
,
刘连
,
黄涛
,
闫勇
,
赵勇
材料导报
综述了掺铝氧化锌(AZO)薄膜制备方法与光电特性,重点阐述了磁控溅射法制备工艺参数如衬底温度、溅射功率、气体压强、溅射时间、衬底和靶间距、负偏压等对AZO薄膜结构、光电性能的影响,并指出目前AZO薄膜的研究关键以及所面临的挑战,展望了未来的研究方向.
关键词:
AZO
,
结构特性
,
光电特性
任重
,
曾雄杰
,
刘连
,
林景福
,
黄文武
绝缘材料
以某220 kV变电站主变变低管型母线缺陷试验为例,综合分析了红外测温、紫外成像以及局部放电检测方法的有效性.结果表明:红外测温作为一种常规而普遍的带电测试方法,能及时有效发现管型母线的缺陷,紫外成像和局部放电检测则可帮助确诊缺陷,并针对不同的缺陷类型评估放电的严重程度,为停电检修提供参考.
关键词:
管型母线
,
带电测试
,
红外测温
,
局部放电
,
紫外成像