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铜对双靶共溅制备热电薄膜输运性能的影响

曹丽莉 , 王瑶 , 邓元 , 罗炳威 , 祝薇 , 史永明 , 林桢

无机材料学报 doi:10.3724/SP.J.1077.2013.13385

采用双靶共溅法制备了铜掺杂的碲化铋锑热电薄膜,铜与碲化铋锑共溅的方法有利于形成沿c轴方向择优生长的碲化铋锑薄膜.结果表明,铜原子均匀的掺杂在碲化铋锑薄膜材料中.由于铜原子有利于提高载流子迁移率,薄膜材料的电导率随着铜掺杂比例的提高得到了极大的提升.当铜靶的溅射功率为20W时,可以得到最高的电导率,同时功率因子的最佳值可提升到20 μW/(cm·K2).

关键词: 半导体 , 薄膜 , 热电性能 , 磁控溅射

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