杨锁龙
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余春荣
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杨光文
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高戈
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吴伦强
稀有金属材料与工程
介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Ta合金中Ta含量的分析方法.该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Ta含量.该方法简便、快速、准确,适用于Ta含量在1％～6％范围的U-Ta合金样品的Ta含量测定.对Ta含量为1.5％的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.6％; Ta含量为5％的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.3％.
关键词:
U-Ta合金
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X射线荧光光谱分析
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Ta含量
杨明太
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吴伦强
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杨光文
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高戈
,
余春荣
稀有金属材料与工程
介绍了用波长色散X射线荧光(WDXRF)法测定Zr-Nb合金中Nb含量的分析方法.该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Nb含量.该方法简便、快速、准确,对Nb质量分数在1.0%～8.0%的Zr-Nb合金样品,测量结果的相对标准偏差(RST)不大于0.8%(n=6).
关键词:
X射线荧光分析
,
Zr-Nb合金
,
Nb含量
