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全自动在片直流测试技术对提高GaAs MMIC批量生产成品率的作用

吴振海 , 郝西萍 , 蒋幼泉 , 陈新宇

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2000.04.037

成品率高低是批量生产能否进行的关键.采用全自动在片直流测试,对参数进行统计分析,能判断成品率是否正常,并帮助找出影响成品率的原因.本文介绍了行之有效的测试统计和分析技术.

关键词: 成品率 , 在片测试 , GaAs MMIC

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