刘伟
,
周先意
,
张宪峰
,
袁松柳
,
李广
,
杜江峰
,
范扬眉
,
叶邦角
,
翁惠民
,
韩荣典
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2000.03.012
为研究超大磁阻材料的掺杂效应,我们测量了(La1-xYx)2/3Ca1/3MnO3系列样品的正电子寿命谱,并结合X射线衍射和电阻温度关系的测量结果,系统地研究了Y掺杂引起的样品局域电子结构和空位型缺陷的变化,并提出了局域电荷转移的观点,解释正电子体寿命的变化.
关键词:
金绍维
,
顾伟伟
,
周先意
,
吴文彬
,
翁惠民
,
朱长飞
,
叶邦角
,
韩荣典
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2004.02.003
用单能慢正电子束,测量了不同氧分压下生长的La0.7Sr0.3MnO3外延膜的S参数与入射正电子能量E的关系.结果发现La0.7Sr0.3MnO3外延膜中S参数与氧分压是非单调变化的;这与沉积氧分压的两种作用相关联的.在氧分压较高的LSMO薄膜中, 空位浓度的增加主要是由沉积原子(离子)与氧原子碰撞几率增大,使其缺乏足够的动能去填补空位引起的;在低氧分压的LSMO薄膜中, 空位浓度的增大则主要是提供成膜所需要的氧原子缺乏,从而导致氧空位及其相关缺陷增加.
关键词:
缺陷性质
,
外延薄膜
,
增电子湮灭
金绍维
,
李金光
,
单会会
,
吴文彬
,
周先意
低温物理学报
doi:10.3969/j.issn.1000-3258.2008.02.006
厚度为6～100 nm的(La0.6Nd0.4)0.7,Sr0.3MnO3(LNSMO)薄膜是由脉冲激光沉积生长在SrTiO3[STO(001)]衬底上.X-射线衍射(XRD)线扫描、ω-摇摆曲线和倒空间衍射显示,随着膜厚(t)的变化,薄膜的结构经历了由完全应变到部分弛豫的变化.电阻测量显示存在两个不同的厚度依赖的金属-绝缘体转变温度(Tp),对于应变的薄膜(t≤17 nm),Tp敏感地依赖于双轴应变和膜厚；而对较厚的薄膜(t≥35nm),Tp对于膜厚是较小敏感的.这个厚度依
赖的输运性的变化可被解释为菱形LNSMO的角度畸变诱导的应变和弛豫.我们的结果表明金属-绝缘体转变温度和相分离都受薄膜的应变态控制.
关键词:
外延薄膜
,
晶格失配应变
,
金属-绝缘体转变
