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Si0.75Ge0.25虚衬底上应变补偿Si/Si0.61Ge0.38量子阱发光

廖凌宏 , 周志文 , 李成 , 陈松岩 , 赖虹凯 , 余金中 , 王启明

材料科学与工程学报

由于Si/SiGe异质结构的带阶差主要发生在价带,为实现高效率的发光,本文从理论上设计了在硅基Si1-x Gex虚衬底上外延应变补偿的Si/S1-y Ge,(y>x)量子阱的能带结构,将量子阱对电子的限制势垒提高到100meV以上.在实验上,采用300℃生长的Ge量子点插入层,制备出薄的SiGe驰豫缓冲层(虚衬底),表面Ge组份达到0.25,表面粗糙度小于2nm,驰豫度接近100%.在我们制备的SiGe缓冲层上外延了应变补偿SiGe/Si多量子阱结构,并初步研究了其发光特性.

关键词: 低维无机非金属材料 , 量子阱 , 光致发光谱 , 弛豫缓冲层

硅烷偶联剂对硅溶胶及其膜层表面开裂性的改性效果

周雅 , 周志文 , 刘佳慧

材料保护

为了改善硅溶胶膜层的开裂性,使用甲基三氧甲基硅烷和KH-5702种硅烷偶联剂对硅溶胶正硅酸乙酯进行改性。比较了2种偶联剂对硅溶胶膜层的影响,应用金相显微观察、傅立叶红外光谱(FT-IR)、扫描电镜观察等系统研究了偶联剂KH-570对硅溶胶及其膜层的改性效果。结果表明:2种硅烷偶联剂都可以明显减少膜层的裂纹,使其表面更加平整;在同样的用量下,偶联剂KH-570对减少涂层表面裂纹的效果更加明显;加入KH.570偶联剂的硅溶胶体系内由于生成了有机.无机杂化的网络结构而有效地减缓了膜层开裂性,提高了其耐蚀性能。

关键词: 硅溶胶正硅酸乙酯 , 改性 , 偶联剂 , KH-570 , 开裂性 , 耐蚀性 , 有机.无机杂化 , 网络结构

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