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OTFTs结构与器件性能

王伟 , 石家纬 , 姜文海 , 郭树旭 , 张宏梅 , 马东阁 , 全宝富

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2007.01.017

在重掺杂的Si衬底上分别制备了底电极(Bottom-contact organic thin-film transistors,BCOTFTs)和顶电极(Top-contact organic thin-film transistors,TC-OTFTs)有机薄膜场效应晶体管,探讨了源、漏电极位置对器件性能的影响.结果表明,顶电极可以形成良好的欧姆接触,其器件的迁移率和开关电流比均高出BC-OTFTs器件三个数量级.研究了栅绝缘层的薄膜厚度对器件的电性能的影响.结果表明,在相同电压下,薄的绝缘层增大了沟道区域的电场,可积累更多的电荷,以填充更多的陷阱,使器件的场效应迁移率和工作电流得到了明显的提高.

关键词: 有机薄膜场效应晶体管 , 顶电极 , 底电极 , 迁移率

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