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AgGa0.2In0.8Se2晶体小温度梯度生长与性质表征

袁泽锐 , 唐明静 , 张羽 , 窦云巍 , 方攀 , 尹文龙 , 康彬

人工晶体学报

利用单温区机械振荡法合成出高纯单相AgGa0.2In0.8Se2多晶,单次合成量超过400 g;DSC测试结果显示其熔点为782℃,结晶温度为771℃.利用坩埚下降法在小温度梯度(2℃/cm)下生长出尺寸为φ25 mm× 75 mm高品质无开裂AgGa0.2In0.8Se2单晶.解离面(112)面摇摆曲线半峰宽为0.056°.厚度为3 mm双面抛光的(112)面晶片在1.5~18 μm波段透过率为65.0% ~ 67.5%,表明所生长AgGa0.2In0.8Se2晶体具有较低的吸收系数,为0.01 ~0.1之间.

关键词: AgGa1-xInxSe2 , 晶体生长 , 温度梯度 , 坩埚下降法

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