高波
,
吴广宁
,
曹开江
,
罗杨
,
王鹏
,
崔易
绝缘材料
doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2011.06.012
对纳米和普通聚酰亚胺薄膜进行了双极性脉冲电压下的老化试验,分析了薄膜老化前后的介电频率谱和温度谱,并借助电镜扫描分析,研究了薄膜老化前后的微观结构形态与宏观介电性能之间的关系.结果表明:老化使聚酰亚胺薄膜介电频率谱中的偶极子弛豫损耗峰向高频移动,低温区的界面极化损耗峰向高温移动；且老化使聚酰亚胺薄膜分子链断裂,生成分子量小的极性分子,使取向极化更易建立；纳米粒子的加入,削弱了老化因子对聚酰亚胺薄膜内部结构的破坏作用,使偶极子取向带来的弛豫损耗大大减小；纳米掺杂形成大量的界面缺陷,使界面极化带来的介质损耗大大增加.
关键词:
聚酰亚胺薄膜
,
绝缘
,
老化
,
介电谱
