颜涛
,
姚淑华
,
刘宏
,
王继扬
,
左致远
,
夏宗仁
稀有金属
doi:10.3969/j.issn.0258-7076.2009.05.021
以Y36°钽酸锂(LiTaO3,LT)晶片为研究对象,通过对同成分LT晶片(CLT)和深度还原黑色u'晶片(BLT)的比较研究,探讨了表面还原处理对钽酸锂晶片电学性能的影响.X射线衍射研究显示,还原处理对晶体结构没有明显影响.BLT的电导率比CLT明显高4个数量级,达到7.7×10-12 Ω-1·c...
关键词:
钽酸锂
,
还原
,
电导率
,
压电性能
,
介电性能
