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薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响

邹春梅 , 左长明 , 路胜博 , 催旭梅 , 姬洪

功能材料与器件学报 doi:10.3969/j.issn.1007-4252.2007.04.001

用MOD方法在LAO基片上沉积不同厚度的YBCO薄膜.用X射线衍射仪对这一系列样品进行表征分析,研究随着薄膜厚度的增加微结构的变化及临界电流密度的变化.X射线衍射分析发现YBCO薄膜取向度随薄膜厚度的增加,在800nm时取得最佳值之后又随厚度增加由强变弱.晶格常数c随着膜厚的增加而增大.本研究对这一系列样品进行了φ扫描分析和摇摆曲线半高宽的计算,并对800nm的YBCO薄膜做了倒易空间图谱分析,实验结果发现800nm的YBCO薄膜晶化比较好.本研究还分析了薄膜厚度对YBCO薄膜临界电流密度的影响.

关键词: YBCO薄膜 , 微结构 , 晶格常数C , φ扫描 , 倒易空间 , 临界电流密度 , 摇摆曲线

自缓冲层对Bi4Ti3O12铁电薄膜结构和性能的影响

张宇 , 左长明 , 王小平 , 宋晓科 , 姬洪

材料导报

铁电薄膜的性能与薄膜的择优取向和应力有密切的联系.采用X射线衍射( XRD)对3片不同自缓冲层条件下的Bi4Ti3O12(B1T)铁电薄膜进行了择优取向和应力分析,研究了自缓冲层影响择优取向和应力的机理.3片BIT薄膜的内应力均为张应力,并随着(200)峰与(117)峰相对强度的增强而变小,结果表明:a轴择优的BIT薄膜性能最好.

关键词: BIT , 自缓冲层 , 择优取向 , 应力 , 摇摆曲线

SrTiO3薄膜材料的高分辨率X射线衍射分析研究

姬洪 , 左长明 , 何士明 , 熊杰 , 李言荣

功能材料

本文应用高分辨X射线衍射(HRXRD+TAXRD)技术对外延生长的SrTiO3膜进行了分析,获得了有关该薄膜的晶体取向、衬底的结构特性以及弛豫态的点阵常数等信息,对今后改进SrTiO3系列样品生长工艺有重要的意义.

关键词: 高分辨X射线衍射 , 外延生长 , 弛豫态的点阵常数

行波管放大链中关键气密材料的失效分析

周勋 , 左长明 , 荣丽梅

材料导报

行波管放大链中关键气密材料的气密性与行波管放大链的性能有密切的联系,分别用IRS、XRD、XPS、SEM和EDS等对该气密材料镍铜合金进行了一系列的失效分析,对影响其气密性的因素做了相应的探讨.结果表明:锰的氧化物在晶界处析出会明显弱化镍铜合金的晶界内聚力,进而致使晶间发生断裂,气密性变差.

关键词: 行波管 , 气密性 , 镍铜合金 , 偏析 , 晶间断裂

不同退火升温速率下PZT铁电薄膜中的残余应力分析

王敬宇 , 左长明 , 姬洪

材料导报

室温下利用射频磁控溅射在Pt/Ti/SiO3/Si(100)上淀积了约200nm厚的PZT铁电薄膜,在N2(纯度为99.999%)气氛中以不同升温速率进行快速热退火,采用X射线衍射法表征其残余应力.结果表明,薄膜中的应力不是二维应力而是三维应力,且除了切应力σ22以外的大部分应力张量的分量为张应力;薄膜中张应力的增大主要是由于氧空位与晶粒尺寸共同作用的结果,而该应力的减小是由于晶粒尺寸在薄膜应力演变过程中占主导地位所致.

关键词: X射线衍射 , 应力 , 氧空位 , 晶粒尺寸

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