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吴师岗 , 张红鹰 , 张佩华
硅酸盐通报
通过对使用前后的碳化硅陶瓷预热器内筒样品进行扫描电镜显微观察和X射线衍射分析,得出陶瓷内筒在使用过程中的结构演变和蚀损机理.结果表明:碳化硅陶瓷内筒在热烟气的氧化作用下不断被氧化,随后氧化生成的Si02在高速物料的冲蚀磨损作用下断裂、剥落,最终导致的结构损坏.
关键词: 碳化硅陶瓷 , 扫描电镜显微 , XRD分析
