王茂华
,
胡克鳌
,
赵斌元
,
张南法
材料科学与工程学报
doi:10.3969/j.issn.1673-2812.2005.06.001
通过掺杂研究了微量Y2O3对低压氧化锌压敏电阻的电性能影响,并采用SEM测试手段对其微观组织结构进行了分析研究,从理论上探讨了Y2O3影响低压氧化锌压敏电阻电性能与组织的机理.研究结果表明,在0～0.07%(摩尔分数)掺杂范围内,随着Y2O3含量的增加,低压氧化锌压敏电阻的电场强度明显提高;当Y2O3含量超过0.07%时,电场强度又呈下降趋势.低压氧化锌压敏电阻掺杂Y2O3后,非线性指数α增大,漏电流IL减小,但当掺杂量在0.06%～0.09%(摩尔分数)的范围内,漏电流IL和非线性指数α的变化不大.其原因是Y2O3加入到氧化锌压敏电阻中,Y主要以固溶的形态分布于ZnO晶内和晶界处,使ZnO晶体的自由电子浓度增大,进而使填隙锌离子Zni的总浓度下降,引起填隙锌离子的传质能力下降,抑制了ZnO晶粒的生长,因而晶粒尺寸随Y2O3掺杂量的增加而减小.
关键词:
低压氧化锌压敏电阻
,
Y2O3
,
电性能
,
显微结构
王茂华
,
胡克鳌
,
张南法
绝缘材料
doi:10.3969/j.issn.1009-9239.2004.06.018
研究了压敏电阻器在环氧树脂灌封后的电性能变化.由于灌封材料渗入了压敏电阻的边沿,漏电流持续上升,不能趋于稳定,引起了性能的劣化,压敏电阻的侧面灌封材料有电流通过.经交流老化试验后,压敏电阻的性能进一步劣化,通过选择与压敏电阻匹配的灌封材料,或先用绝缘釉对压敏电阻进行侧面处理,可避免由于灌封材料引起的性能劣化现象.
关键词:
压敏电阻
,
灌封
,
绝缘
,
电性能
