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纳米粒子粒径评估及测试方法的比较

朱静 , 蔺锡伟 , 郭薇 , 贾丽萍 , 赵向荣 , 张晋远 , 柳春兰 , 叶恒强 , 宁小光

金属学报

本文介绍了透射电镜综合分析—分散法测定纳米粒子粒径的方法,并将此法与X射线小角散射法及透射电镜暗场法测粒径进行了实验与分析的比较。认为采用X射线小角散射法与透射电镜综合分析—分散法相结合测定评估纳米粒子粒径可以以较快的速度得到准确的结果、综合的信息。

关键词: 纳米粒子 , particle size , X-ray small angle scattering , TEM compositive analysis-dispersion method , dark field method

Al及Al合金粉末颗粒表面氧化膜厚度对爆炸烧结体质量的影响

张登霞 , 马成辉 , 蔡铭 , 艾宝仁 , 张晋远 , 朱瑞珍 , 柳春兰

金属学报

借助光学显微镜、扫描电镜分析研究了水雾化、氮气雾化Al粉和超声氩气雾化Al-Li合金扮爆炸烧结体的显微结构.结果表明:只有Al及Al合金粉的表面氧化膜厚度小于30nm时,才可以得到性质优异的爆炸烧结体。

关键词: 铝及铝合金粉 , Al-Li alloy powder , explosive compact

纳米氟硼酸钾粉末的制备及表征

柳学全 , 任卫 , 李红印 , 霍静 , 李红云 , 李一 , 张晋远

功能材料

探讨了高能球磨法制备纳米KBF4粉末的工艺过程及影响因素.通过选择合适的球磨工艺及表面活性剂,以普通KBF4粉末为原料成功制备出粉末的粒度均径为81.2nm、比表面积为28.26m2/g的纳米级KBF4粉末.分别采用BET比表面积测试法、X射线小角度散射法(SAXS)及扫描电镜对纳米KBF4粉末进行了表征.

关键词: 纳米KBF4粉末 , 高能球磨 , 制备表征

X射线掠入射法测定金刚石薄膜厚度的研究

方建锋 , 唐伟忠 , 张晋远 , 郑毅

物理测试

本文研究了用近平行的入射X射线,以掠入射的方式,利用薄膜下基体某一晶面衍射强度随掠入射角的变化关系来测定薄膜厚的方法。导出了基体某一晶面的衍射强度的对数InIr与掠入射角函数f(r)之间的线性关系,发现该直线的斜率即为薄膜的线吸收系数与其厚度的乘积。对WCCo硬质合金上的金刚石薄膜厚度进行了测定,并对该方法的重复性进行了验证。结果表明,InIr与f(r)之间的具有很好的线性相关性,而且该方法具有较好的精确性。

关键词: 掠入射X射线衍射 , diamond thin film , thickness determination

取向硅钢[001]晶向分布的非对称X射线衍射法测定

方建锋 , 田志凌 , 秦英 , 李军 , 张晋远 , 郑毅

钢铁研究学报

论述了采用固定2θ角,进行Ω扫描的非对称X射线衍射方法来测定取向硅钢易磁化方向[001]晶向分布的原理,以及针对取向硅钢板的具体情况采用叠片法对取向硅钢[001]晶向偏离角α、β角的测定方法(α为[001]晶向对轧向在轧面上的偏离角,β为[001-]晶向对轧面的倾角).利用该方法对取向硅钢的α、β角进行了测定,得到了α、β角的分布情况.讨论了对取向硅钢的α、β角进行半定量表示的方法,以及定量表示α、β角的途径.

关键词: 取向硅钢 , [001]晶向 , 取向分布

镍基单晶高温合金(001)和(011)晶面的定向切割

方建锋 , 田志凌 , 燕平 , 张晋远 , 郑毅

机械工程材料

为了对镍基单晶高温合金进行不同晶面的定向切割,开发了用普通的X射线衍射仪,通过非对称X射线衍射技术对合金的[001]及[011]取向进行精确测定以及在此基础上对(001)和(011)晶面进行定向切割的方法.结果表明:经过两次定向切割后所得小块单晶体的(001)和(011)晶面偏离试样端面的角度分别为0.4°和0.1°.

关键词: 镍基单晶高温合金 , 定向切割 , 非对称 , X射线衍射

Ni基单晶高温合金取向测定方法的研究

方建锋 , 田志凌 , 燕平 , 张晋远 , 郑毅

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2008.03.012

论述了在普通的多晶衍射仪上,利用固定2θ角,进行Omega扫描的非对称X射线衍射方法来测定Ni基单晶高温合金[001]取向的原理,对三个具有不同取向角度的Ni基单晶高温合金进行了取向测定,讨论了该方法可测试的单晶体偏差角的范围和进一步扩大测试范围的可能解决方法,以及测试中应注意的问题.利用带有偏差角的非对称扫描方法得到了单晶的(002)晶面的衍射线,讨论了得到该衍射线的意义.

关键词: Ni基单晶 , 取向测定 , 非对称X射线衍射

X射线掠入射法测定金刚石薄膜厚度的研究

方建锋 , 唐伟忠 , 张晋远 , 郑毅

物理测试 doi:10.3969/j.issn.1001-0777.2007.04.003

本文研究了用近平行的入射X射线,以掠入射的方式,利用薄膜下基体某一晶面衍射强度随掠入射角的变化关系来测定薄膜厚的方法.导出了基体某一晶面的衍射强度的对数InIr与掠入射角函数f(r)之间的线性关系,发现该直线的斜率即为薄膜的线吸收系数与其厚度的乘积.对WC-Co硬质合金上的金刚石薄膜厚度进行了测定,并对该方法的重复性进行了验证.结果表明,InIr与f(r)之间的具有很好的线性相关性,而且该方法具有较好的精确性.

关键词: 掠入射X射线衍射 , 金刚石薄膜 , 厚度测定

化学复合镀纳米金刚石粉的研究

相英伟 , 张晋远 , 金成海

材料工程 doi:10.3969/j.issn.1001-4381.2000.04.007

研究了化学复合镀纳米金刚石粉的不同施镀工艺,并分析了复合镀层的性能和结构.结果显示,与机械搅拌和氮气搅拌相比,注射搅拌制得的复合镀层中的纳米金刚石含量较高.实验中选用的几种表面活性剂未能提高复合镀层中纳米金刚石的复合量.纳米金刚石的嵌入不改变复合镀层的结构,但使镀层表面形成不平整的、微小球粒堆砌状形貌.

关键词: 化学复合镀 , 纳米金刚石 , 表面活性剂

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