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正脉冲占空比对ZK60镁合金微弧氧化陶瓷膜的影响

芦笙 , 吴良文 , 徐荣远 , 陈静

材料保护

占空比是影响微弧氧化过程和微弧氧化膜结构与性能的重要因素之一.研究了恒定的电流密度、频率、微弧氧化时间下,正占空比对ZK60镁合金微弧氧化电压和氧化膜结构与耐腐蚀性能的影响.结果表明:正占空比对ZK60镁合金微弧氧化起弧电压和起弧时间的影响较小,微弧氧化终电压随正占空比的增大而增大;正占空比增加,促进了镁合金与溶液的反应,在相同微弧氧化时间内形成的陶瓷膜厚度逐渐增加,镁合金耐腐蚀性能提高,但在正占空比达到50%后,提高正占空比不能提高镁合金的耐腐蚀性能,甚至会使其降低.

关键词: 微弧氧化 , 占空比 , ZK60镁合金 , 陶瓷膜 , 耐蚀性

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