罗广圣
,
黄军平
,
徐鹏
,
唐少龙
,
蔡宏灵
,
徐金
,
吴小山
稀土
doi:10.3969/j.issn.1004-0277.2004.05.017
用非自耗电弧炉熔炼了Gd5+xSi2Ge2系列样品.用X射线粉末衍射(XRD)和Rietveld方法研究了Gd5+xSi2Ge2系列样品的晶体结构.用自制的仪器测量了样品的居里温度,用振动样品磁强计研究了样品的磁卡效应.对样品的晶体结构分析结果表明:Gd的含量x的变化对Gd5Si2Ge2化合物的晶体...
关键词:
磁熵变
,
Rietveld方法
,
晶体结构
,
退火
,
磁卡效应
