戴林杉
,
包生祥
,
曾慧中
材料研究学报
doi:10.3321/j.issn:1005-3093.2004.05.009
应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构.结果表明,将样品晶粒的微形貌与SFM的纵向和侧向压电响应信号相结合,能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构.用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电...
关键词:
无机非金属材料
,
铁电体
,
扫描力显微镜
,
电畴
,
PZT陶瓷
,
压电响应
