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工作气压对磁控溅射ITO薄膜性能的影响

任丙彦 , 刘晓平 , 李彦林 , 王敏花 , 羊建坤 , 许颖

人工晶体学报 doi:10.3969/j.issn.1000-985X.2007.04.018

工作气压在ITO薄膜的制备过程中是一个重要的工艺参数,直接决定着薄膜的性能.本文利用射频磁控溅射方法,采用氧化铟锡陶瓷靶材,在衬底温度为175℃,工作气压范围为0.45~1.0 Pa条件下,制备了氧化铟锡透明导电薄膜.研究了工作气压对其微观结构、表面形貌和光电特性的影响.在衬底温度为175℃、纯氩气中制备的氧化铟锡薄膜电阻率为3.04 ×10-4 Ω·cm、可见光波段(400~800 nm)透过率为91.9%,适合用作异质结太阳电池的前电极和减反射膜.

关键词: 磁控溅射 , ITO薄膜 , 溅射气压 , 低温

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