刘淑祺
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张启运
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杨展澜
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沈电洪
金属学报
用撇取氧化膜的方法配合XPS和X射线衍射研究了P、As,Ga,Ge,In,Al,Mg,Zn,Cu,Ag,Cd,Tl,Pb,Sb,Bi等15个微量元素(浓度0.005at.-％)在液态Sn表面膜和体相中的分布。其中Ga,P,Ge,Mg,Zn,Al,In,As在表面膜中有很大的富集。富集的程度与微量元素氧化物的生成热有关。XPS研究结果表明,只有Ga,Ge,As,Al,Zn在最表层2—3nm内富集。富集的结果改变了氧化膜的组成和结构。微量元素以氧化物的形式同SnO组成复杂的含氧酸盐而构成氧化膜,并因此使氧化膜变得更稳定和致密,起了保护液态Sn免于氧化的作用。
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