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Cu含量对TiN-Cu纳米复合膜结构与性能的影响

宋贵宏 , 张晶晶 , 杨肖平 , 李锋 , 陈立佳 , 贺春林

材料科学与工艺 doi:10.11951/j.issn.1005-0299.20150111

为研究纳米复合膜超硬机理和促进其商业应用,利用电弧离子镀制备了TiN-Cu纳米复合膜,并对其表面形貌、晶体结构、能谱、XPS谱和硬度进行研究.结果表明:沉积膜仅含有TiN相和少量的Ti相,TiN相晶粒尺寸随薄膜Cu含量的增加而逐渐减小;尽管有的沉积膜中Cu原子数分数高达8.99%,但仍没有发现金属Cu相或Cu的化合物相衍射峰;沉积膜中Cu元素以金属Cu的状态存在,Ti主要以TiN相存在,少量以金属Ti相存在,但没有Ti2 N相;薄膜生长过程中, Cu、Ti和N共沉积,竞争生长,Cu的加入抑制了TiN晶粒的长大;沉积膜的硬度随Cu含量增加而增加,达到最大值后下降,薄膜硬度随Cu含量变化与薄膜中TiN相或Cu相尺寸有关.

关键词: TiN-Cu薄膜 , 纳米复合膜 , 硬度 , XPS谱 , Cu含量 , 电弧离子镀

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