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检索条件:作者=杭春进  

  • 论文(4)

混装BGA器件高温老化实验焊点微观组织研究

杭春进 , 田艳红 , 赵鑫 , 王春青

金属学报 doi:10.3724/SP.J.1037.2012.00759

采用有Pb焊料对无Pb焊点球栅阵列(BGA)塑封器件进行焊接,选用再流焊工艺对器件进行混装焊接.对混装再流焊BGA器件分别进行4,9,16和25 d的高温老化实验,在老化实验前后不同阶段,使用精密电阻仪对混装BGA器件进行电性能测试,没有发现器件的电性能失效.利用SEM对焊点微观组织的分析发现,混装...

关键词: 混装焊点 , 高温老化 , 微观组织 , 可靠性

铜丝球焊技术研究进展

杭春进 , 王春青 , 洪守玉

材料科学与工艺 doi:10.3969/j.issn.1005-0299.2007.05.020

在微电子器件封装第一级互连技术中,丝球焊技术占据着重要地位.随着封装技术的不断发展以及铜芯片技术的逐步应用,铜丝球焊技术开始部分替代金丝球焊应用在一些分立器件、大功率器件等电子元器件的封装中,并在精密封装领域得到推广和应用.本文主要对近年来铜丝球焊技术的相关研究进行了综述,介绍了铜丝球焊技术的发展现...

关键词: 铜丝球焊 , IC封装 , 微电子器件

老化过程中Cu/Al合金键合界面金属间化合物的生长行为

徐慧 , 王春青 , 杭春进

金属学报

金丝球焊是电子工业中应用最广泛的引线键合技术,但随着高密度封装的发展,铜丝球焊日益引起人们的关注。本文采用热压超声丝球键合的方法,将直径50μmCu引线键合到Al-1%Si-0.5%Cu金属化焊盘。对焊点在不同温度下进行老化,通过SEM、EDX和Micro-XRD观察和分析IMC生长情况。结果表明:...

关键词: 铜丝球键合 , IMC , Aging , Micro-XRD

老化过程中Cu/Al合金键合界面金属间化合物的生长行为

徐慧 , 王春青 , 杭春进

金属学报 doi:10.3321/j.issn:0412-1961.2007.02.003

采用热压超声丝球键合方法,将直径50μm Cu引线键合到Al-1%Si-0.5%Cu金属化焊盘.对焊点在不同温度下进行老化,通过SEM,EDX和Micro-XRD分析了金属间化合物(IMC)生长情况.结果表明:老化后Cu-Al IMC主要为CuAl2和Cu9AL4.在老化温度一定时,Cu-Al IM...

关键词: Cu丝球键合 , 金属间化合物 , 老化 , Micro-XRD